相控陣超聲檢測是由若干個按一定規律排列的壓電晶片組成的超聲探頭晶片的組合，然后按預定的延遲時間依次激勵每個晶片。所有晶片發出的超聲波形成一個完整的波前，可以有效地控制發射超聲波束(波前)的形狀和方向，實現超聲波束的掃描、偏轉和聚焦。
相控陣超聲檢測探測技術使用不同形狀的多元素換能器來產生和接收超聲波束。通過控制換能器陣列中各單元發射(或接收)脈沖的不同延遲時間，改變聲波到達(或來自)物體某一點時的相位關系，實現焦點和波束方向的變化，從而實現超聲波束的掃描、偏轉和聚焦。然后，采用機械掃描和電子掃描相結合的方法實現圖像成像，通常采用一維線陣探針。壓電晶片排列成直線，聚焦聲場為片狀。它可以得到缺陷的二維圖像，這在工業上得到了廣泛的應用，顧名思義，陣列是排列在探針中的芯片的幾何形狀。相控陣探測器主要有三種陣列類型: 線陣、平面陣和圓陣.
相控陣探頭大多采用線性陣列，因為線性陣列編程簡單，成本明顯低于其他陣列，采用相控陣探頭檢測焊縫時，不需要像普通單探頭那樣頻繁地在焊縫兩側來回移動，而采用相控陣探頭沿焊縫平行的長度方向掃描焊縫，以檢測焊接接頭的整體體積。掃描方式可以在裝有陣列探針的機械掃描儀的幫助下沿精確定位軌跡滑動完成，也可以通過手動方式完成，可以實現檢測效率很高的快速檢測。
